三箱式冷热冲击试验箱

三箱式冷热冲击试验箱是主打 “无振动、高精度” 的温度冲击测试设备,核心适配对测试环境稳定性要求高的精密产品,是高端制造领域的关键检测工具。

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产品概述

三箱式冷热冲击试验箱是主打 “无振动、高精度” 的温度冲击测试设备,核心适配对测试环境稳定性要求高的精密产品,是高端制造领域的关键检测工具。温度冲击箱适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此设备试验,可提高产品的可靠性产品的质量控制考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品,在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能,冷热冲击试验箱是航空、汽车、家电、工厂军工科研等领域行业必备的测试设备。


试验标准:

1. GJB 150.5A-2009

2. GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971

4. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007

5. GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007

6. GJB 360B-2009

7. GB/T 10589-2008

8. GB/T 11158-2008

9. GB/T 5170.2-1996


三箱式冷热冲击试验箱的类型结构:它由独立高温箱、独立低温箱、独立测试区(中间箱) 三部分组成,测试时样品始终放置在中间测试区,通过切换风门将高温或低温气流导入测试区,模拟极端温度骤变场景。
无振动干扰:样品全程固定在测试区,无提篮移动的机械振动,完全适配对振动敏感的样品(如精密传感器、光学镜头、医疗芯片)。
样品无室温暴露:风门切换时,测试区始终与高 / 低温箱连通,无室温空气介入,避免样品因短暂暴露产生额外温度波动,测试数据更精准。
测试过程更稳定:气流导入式冲击,温度变化平缓且可控,减少样品因剧烈温变(如两箱式快速转移)可能出现的物理损伤。



三箱式温度冲击试验箱的主要适用场景:

电子电气行业:用于测试 PCB 电路板、IC 集成电路、芯片、手机、电脑等产品,发现焊接开裂、材料不匹配等缺陷。

汽车电子:可对发动机控制单元、传感器、车灯、电池等进行在温度环境下的可靠性测试。

航空航天:适用于对安全性要求高的机载设备、卫星部件等的测试。

金属材料:用于检验金属材料在不同温度下的物理和化学性能。

塑料和橡胶:可测试其在温度快速变化下的脆化、老化、变形等情况。

技术参数

标称内容积(L)

50L

内箱尺寸(mm)

350×40350(W×H×D)

外形尺寸(mm)

1300×1800×1700(W×H×D)

温度范围

高温

RT~ 180 

 

 

低温

55℃ ~ RT

 

 

测试区

40℃ ~ 150

 

温度冲击范围

高温

60℃ ~ 150℃

 

 

低温

10℃ ~ -40

 

 

常温区

室内温度

 

温度显示精度

0.01

 

温度波动

±0.5

 

温度偏差

±2

 

温度均匀性

2

 

温变时间

15S完成切换,≤5min内温度稳定

 

储冷时间

RT→-55℃ ≤  65min降温速率1/min

 

储热时间

RT170  35min升温速率3/min

压缩机

进口美国艾默生谷轮R23/R404A制冷剂

 

冷却方式

环境温度5℃~30℃)

 

冷凝器

风冷型翅片式冷凝器

 

加热器/蒸发器

镍铬合金电加热器/翅片式蒸发器

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